環(huán)儀儀器HYTS系列三廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱，主要結(jié)構(gòu)是由三個(gè)區(qū)(高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū))組成，高溫區(qū)即是生產(chǎn)及儲(chǔ)存高溫，低溫區(qū)即是生產(chǎn)及儲(chǔ)存低溫，測(cè)試區(qū)則是提供給顧客擺放產(chǎn)品的空間容積。

實(shí)拍圖片：

溫度沖擊原理：

利用低溫及高溫蓄冷熱儲(chǔ)存槽，依動(dòng)作需要打開(kāi)閥門，將儲(chǔ)存槽內(nèi)之冷熱溫度導(dǎo)入試驗(yàn)槽內(nèi)從而達(dá)到快速溫度沖擊效果。其主旨是為了考察產(chǎn)品在溫度快速變化時(shí)的性能，從而判定產(chǎn)品的可靠性。

主要參數(shù)：

高溫測(cè)試區(qū)：

高溫室：+60℃→+180℃

升溫時(shí)間：升溫 +20℃→+180℃ ≤25min

注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

低溫測(cè)試區(qū)：

溫度范圍：-60℃～-10℃

降溫時(shí)間：降溫 +20℃ → -60℃≤60min

注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB10592-89高低溫箱技術(shù)條件；

GB10586-93濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

《GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：低溫試驗(yàn)方法；

《GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：高溫試驗(yàn)方法；

《GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：交變濕熱試驗(yàn)方法；

《GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》：恒定濕熱試驗(yàn)方法。

售后服務(wù)：

環(huán)儀儀器保修壹年,終生維護(hù)，定期回訪，聽(tīng)取客戶建議，建立客戶服務(wù)檔案；

提供最新的技術(shù)支持及使用指導(dǎo)服務(wù)，我公司承諾，對(duì)客戶的電話，我方1小時(shí)內(nèi)作出反應(yīng)，需要派技術(shù)服務(wù)人員到現(xiàn)場(chǎng)解決的，我方承諾在24小時(shí)內(nèi)派出人員（特殊情況如法定假日等除外）