適用行業(yè):航空、航天、軍工、科研、質(zhì)檢、電工、電子、汽車、材料、化工、通訊、機(jī)械、家電、零部件、新能源
產(chǎn)品用途:快速溫度變化試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必備的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
一、應(yīng)用范圍:
快速溫度變化試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必 備的測試設(shè)備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,適用于學(xué)校,工廠,軍工,研位,等單位.
二、滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;GB/T1058 9-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.3-2006試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法;GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.4-2008試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法;GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法;GJ B150.3高溫試驗(yàn);
IEC60068-2-1:2007低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法;GJ B150.4低溫試驗(yàn);
IEC60068-2-2:2007高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法;GJ B150.9濕熱試驗(yàn);
IEC68-2-1試驗(yàn)A:寒冷;IEC68-2-2試驗(yàn)B:干熱;
三、技術(shù)參數(shù):
HYQT-80SL5 HYQT-80SL10 HYQT-80SL15 | HYQT-150SL5 HYQT-150SL10 HYQT-150SL15 | HYQT-225SL5 HYQT-225SL10 HYQT-225SL15 | HYQT-408SL5 HYQT-408SL10 HYQT-408SL15 | HYQT-800SL5 HYQT-800SL10 HYQT-800SL15 | |
測試環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下 | ||||
測試方法 | GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備 | ||||
溫度范圍 | -70℃→+150℃ | ||||
快溫變范圍 | -50℃→+100℃ | ||||
溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | ||||
溫度偏差 | ±2.0℃ | ||||
溫度均勻度 | ≤2.0℃,101℃以上 ≤ 3℃。 | ||||
濕度范圍 | 20%~98%R.H,詳見溫濕度范圍圖: | ||||
濕度波動(dòng)度 | ±2.5%R.H. | ||||
濕度均勻度 | ±5.0% | ||||
濕度偏差 | ±3.0%RH(濕度 > 75%RH),±5.0%RH(濕度 ≤75%RH) | ||||
升溫時(shí)間 | -50℃→+100℃ 15℃±5℃/ 分 (非線性可調(diào),從5℃~15℃/ m ) | ||||
降溫時(shí)間 | +100℃→-50℃ 15℃±5℃/ 分 (非線性可調(diào),從5℃~15℃/ m ) | ||||
正常升降溫 | +70℃~150℃ 約40 min(非線性) | ||||
正常降降溫 | +20℃~-70℃ 約35 min(非線性) |
技術(shù)優(yōu)勢:
結(jié)構(gòu)緊湊,設(shè)計(jì)合理,能夠?qū)崿F(xiàn)快速溫變功能,并且個(gè)控溫系統(tǒng)相互獨(dú)立,更易于控制,在正常使用中對(duì)加熱/制冷組件的功率調(diào)節(jié)頻率較低,有利于提高其使用壽命。
主要原理:
通過快速變化試驗(yàn)箱內(nèi)部的溫度,使試驗(yàn)樣品在高溫和低溫之間交替循環(huán),從而模擬出實(shí)際使用中所遇到的高溫低溫變化環(huán)境,用于測試材料、電子器件等在此環(huán)境下的耐久性、可靠性等指標(biāo)。